sem和tem区别

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TEM和SEM的区别

SEM，均称扫描电镜，又称扫描电镜，英文名scanningelectronicmicroscopy.tem，均称透射电镜，英文名transming

差异：

SEM样品中激发的二次电子和背散射电子被采集并成像. TEM可以表征样品的质厚对比度，也可以表征样品的内晶格结构. TEM的分辨率比SEM稍高。

SEM样品的要求并不严格，但TEM样品观察的部分必须薄至100nm的厚度以下。 通常先制成直径3mm的薄片，再进行离子减薄或双喷(或要求厚度在20~40m以下的薄区)。

TEM可以标定晶格常数，确定物相结构； SEM主要可以标定某些元素的含量，但不能准确测定结构。

sem和tem都可以用来分析材料的显微结构，其原理和应用特性各有什么迥异

XRD可进行定性、定量分析。 也就是说，可以分析合金中的相成分和含量，测量晶格参数，测量结构方向、含量，测量材料的内应力、材料晶体大小等。 主要用于分析合金中的相成分和含量。

样品制备：

通常，要定量分析的样品细度在1微米左右，即通过320目筛。

SEM利用电子与物质的相互作用，可以获取被检体自身的各种物理、化学性质的信息，例如形态、组成、晶体结构、电子结构和内部电场或磁场等。 主要利用二次电子信号成像观察样品的表面形貌。 也就是说，用极窄的电子束扫描试料，通过电子束与试料的相互作用产生各种各样的效果，其中主要是试料的二次电子发射。

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